产品中心

ATE测试板
ZENFOCUS(泽丰)具备主流ATE测试平台硬件开发能力
自主研发LB(Load Board)和PIB(Probe Interface Board),其中LB用于IC封装后的成品测试(FINAL TESTNG),PIB用于晶圆测试(WAFER TESTNG); 对HPC、网络、无线、PMIC、MULTMEDIA、MEMORY、RF等类型IC的LB和PIB拥有丰富的设计经验。

滚动探索

Load Board

ZENFOCUS(泽丰)生产与高端厂商产品齐平的高性能测试板,其高速、高频特性与仿真测试数据呈现高

Probe Card Components

ZENFOCUS(泽丰)具有独立的MLC/ MLO设计及加工能力,具备PCBA/

DSA

ZENFOCUS(泽丰)满足多样的定制化需求,实现配件全面国产化。

BIB Design

拥有HTOL(Criteria,Incal 160,ect.)、HAST/THB

产品优势
  • 最大尺寸:570*650mm
  • 最大厚度:10mm
  • 厚度公差:±5%
  • 叠孔次数:3
  • 最多压合次数:4(包括HDI)
  • 平整度(DUT区域):50μm
  • 信号速率:112G PAM4/65G NRZ
  • 最大层数:>100层
  • BGA DUT Pitch(最小):0.35mm